Educational Scanning Tunneling Microscope (FM-Nano View T-STM)

ภาพรวมผลิตภัณฑ์

รายละเอียดสินค้า: กล้องจุลทรรศน์แบบส่องกราดอุโมงค์ FM-NanoviewT-STM การออกแบบขนาดเล็กและถอดออกได้ ง่ายต่อการพกพาและการสอนในชั้นเรียน หัวตรวจจับและโต๊ะสแกนตัวอย่างรวมกัน ซึ่งมีเสถียรภาพและเชื่อถือได้ ตัวอย่างการขับเคลื่อนแกนเดี่ยวเพื่อ

ข้อมูลพื้นฐาน:

กล้องจุลทรรศน์แบบส่องกราดอุโมงค์สำหรับการสอน

• กล้องจุลทรรศน์แบบส่องกราดอุโมงค์สำหรับการสอน
• การออกแบบขนาดเล็กและถอดออกได้ ง่ายต่อการพกพาและการสอนในชั้นเรียน
• หัวตรวจจับและโต๊ะสแกนตัวอย่างรวมกัน ซึ่งมีเสถียรภาพและเชื่อถือได้
• ตัวอย่างการขับเคลื่อนแกนเดี่ยวเพื่อให้เข้าใกล้หัววัดในแนวตั้งโดยอัตโนมัติ ระบุตำแหน่งพื้นที่
• สแกนอย่างแม่นยำ และทำให้ปลายเข็มตั้งฉากกับการสแกนตัวอย่าง
• โหมดการป้อนเข็มอัจฉริยะของการตรวจจับอัตโนมัติของเซรามิกไฟฟ้าแรงดันที่ควบคุมโดยมอเตอร์ช่วยป้องกันหัววัดและตัวอย่าง
• ระบบสังเกตการณ์ CCD ด้านข้าง การสังเกตแบบเรียลไทม์ของสถานะการสอดเข็มของหัววัดและการวางตำแหน่งพื้นที่สแกนตัวอย่าง
• วิธีกันกระแทกแบบสปริงแขวน ง่ายและใช้งานได้จริง เอฟเฟกต์กันกระแทกที่ดี
• โปรแกรมแก้ไขผู้ใช้การแก้ไขแบบไม่เชิงเส้นของฮาร์ดแวร์สแกนเนอร์ในตัว ความแม่นยำในการกำหนดลักษณะนาโนเมตรและการวัดดีกว่า 98%
  

พารามิเตอร์ทางเทคนิค:
โหมดการทำงาน: โหมดความสูงคงที่, โหมดกระแสคงที่

• ขนาดตัวอย่าง: Φ90mm, H20mm
• ช่วงการสแกน: 1000nm ใน XY, 200nm ในทิศทาง Z
• ความละเอียดในการสแกน: 0.05nm ใน XY, 0.01nm ในทิศทาง Z
• ช่วงการเคลื่อนที่ของตัวอย่าง: 0~13mm
• กำลังขยายออปติคอล 4X, ความละเอียดออปติคอล 2.5um
• อัตราการสแกน 0.6Hz~4.34Hz, มุมการสแกน 0~360°
• การควบคุมการสแกน: XY ใช้ 18-bit D/A, Z ใช้ 16-bit D/A
• การสุ่มตัวอย่างข้อมูล: 14-bit A/D, dual 16-bit A/D การสุ่มตัวอย่างพร้อมกันหลายช่องสัญญาณ
• โหมดป้อนกลับ: DSP digital feedback
• อัตราการสุ่มตัวอย่างป้อนกลับ: 64.0KHz
• อินเทอร์เฟซการสื่อสาร: USB2.0/3.0
• สภาพแวดล้อมการทำงาน: ระบบปฏิบัติการ Windows XP/7/8/10