In-Situ TEM Four-Degree-of-Freedom Nanomanipulator

ภาพรวมผลิตภัณฑ์

ความสามารถในการวิเคราะห์เชิงทดลองของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านในหลายระดับและหลายมุมมอง (ภาพสนามสว่างและสนามมืด การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน องค์ประกอบทางเคมี) และเครื่องมือทดลองไมโคร-นาโนกลศาสตร์ In-situ บนพื้นฐานของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน จะเป็นแพลตฟอร์มการทดลองสำหรับการศึกษาการก่อตัวและวิวัฒนาการของข้อบกพร่องภายในวัสดุ แท่นวางตัวอย่างการสร้างภาพสามมิติที่เชื่อมต่อกับการควบคุมนาโนสามมิติด้วยการหมุน 360 องศาให้การสนับสนุนอุปกรณ์สำหรับการสร้างภาพสามมิติระดับอะตอม การรวมการสร้างภาพสามมิติกับฟังก์ชันการโหลด In-situ เช่น เลนส์ In-situ กลศาสตร์ และไฟฟ้า เพื่อให้บรรลุการวิเคราะห์แบบไดนามิกของวิวัฒนาการโครงสร้างสามมิติ จะช่วยสนับสนุนความเข้าใจของมนุษย์เกี่ยวกับโครงสร้างวัสดุอย่างไม่ต้องสงสัย

ข้อมูลพื้นฐาน

1. คุณสมบัติ:

 ประสิทธิภาพการควบคุมนาโนที่ดี

• ไดรฟ์เซรามิกเพียโซอิเล็กทริกเต็มรูปแบบ
• สี่องศาอิสระพร้อมการแยกแกน XYZ และการหมุน 360° รอบแกน X
• ประสิทธิภาพการควบคุมนาโนที่ดี
  
  พร้อมแพลตฟอร์มการขยายที่หลากหลาย:
  
  มาพร้อมกับแพลตฟอร์มการขยายต่างๆ เช่น กลศาสตร์และไฟฟ้า เพื่อทำการทดลองสามมิติแบบไดนามิกให้เสร็จสมบูรณ์
  
  2. ฟังก์ชันหลัก
  

• การทดลองทางกล In-situ
• การสร้างภาพ 3 มิติ
• การทดลองทางไฟฟ้า In-situ
• การทดลอง 3 มิติแบบไดนามิก
  
  การใช้งาน

• การทดลองทางกลใน In-situ
• การสร้างภาพ 3 มิติ
• การทดลองทางไฟฟ้า In-situ 
• การทดลอง 3 มิติแบบไดนามิก