ภาพรวมผลิตภัณฑ์
หัววัดรุ่น E series prober มีระบบกลไกที่ยอดเยี่ยม โครงสร้างและประสิทธิภาพที่เสถียร การออกแบบตามหลักสรีรศาสตร์ การใช้งานที่สะดวกยิ่งขึ้น รองรับการอัปเกรดมัลติฟังก์ชั่น ฟังก์ชั่นผลิตภัณฑ์ที่หลากหลายยิ่งขึ้น ผลิตภัณฑ์นี้ส่วนใหญ่ใช้ในด้านการผลิตและการวิจัยของวงจรรวม, LED, LCD, เซลล์แสงอาทิตย์ และอุตสาหกรรมอื่นๆ
ข้อมูลพื้นฐาน
ทิศทางการใช้งาน
การทดสอบความเข้มแสง/ความยาวคลื่น LD/LED/PD การทดสอบอิเล็กโทรด/PAD การทดสอบ PCB/อุปกรณ์แพ็คเกจ การทดสอบวัสดุ/อุปกรณ์ IV/CV การทดสอบลักษณะความถี่สูง (ความถี่สูงสุด 300GHZ) การทดสอบ RF ฯลฯ
ลักษณะทางเทคนิค
การออกแบบแท่นเคลื่อนที่แบบปิด ป้องกันฝุ่นละออง การทำงานผิดพลาด โครงสร้างที่สวยงาม แท่นเคลื่อนที่ใช้ไดรฟ์สกรูตะกั่วความแม่นยำ THK + การเคลื่อนที่เชิงเส้น + การออกแบบส่วนต่างการกลับตัวโดยไม่มีระยะห่าง + ฟังก์ชั่นล็อคหัวจับ เพื่อปรับปรุงความแม่นยำในการเคลื่อนที่ของหัวจับในหลายๆ ด้าน
ลักษณะทางเทคนิค:
ฐานรองรับแรงกระแทกแบบปรับได้ได้รับการออกแบบด้วยวัสดุดูดซับแรงกระแทกนำเข้าจากประเทศเยอรมนีเพื่อเพิ่มการรองรับแบบยืดหยุ่น เพื่อให้ได้ความแข็งแกร่ง ความแข็ง และช่วงการรับน้ำหนักที่แตกต่างกัน และกรองการรบกวนจากแหล่งกำเนิดการสั่นสะเทือนในสภาพแวดล้อมได้อย่างมีประสิทธิภาพ เพื่อให้แน่ใจว่าการสัมผัสที่มั่นคงระหว่างปลายหัววัดและแผ่นของตัวอย่าง ซึ่งจะช่วยปรับปรุงเสถียรภาพของการทดสอบ
สามารถปรับยกหัวจับได้:
หัวจับสามารถปรับยกได้ ระยะชัก 5 มม. และความแม่นยำ 10μm ซึ่งสะดวกสำหรับตัวอย่างในการแยกหัววัดอย่างรวดเร็ว
ฐานรองรับแรงกระแทกแบบปรับได้ POMater:
The self-adaptive shock-absorbing base is designed with imported shock-absorbing materials from Germany to enhance elastic support, to achieve different degrees of rigidity, hardness and bearing range, and effectively filter vibration source interference in the environment to ensure stable contact between the probe end and the Pad of the sample, improving the stability of the test.
สามารถปรับยกหัวจับได้:
The chuck can be adjusted lifting, the stroke is 5mm, and the accuracy is 10μm, which is convenient for the sample to quickly separate the probe.
การยกกล้องจุลทรรศน์อย่างรวดเร็วด้วยลม :
กล้องจุลทรรศน์ถูกยกขึ้นอย่างรวดเร็วด้วยลม ซึ่งสะดวกในการเปลี่ยนกล้องจุลทรรศน์และที่วางการ์ดหัววัด
การออกแบบแท่นขนาดใหญ่
โครงสร้างตัวถังขนาดใหญ่ช่วยเพิ่มความสะดวกสบายในการใช้งาน แท่นวางตำแหน่งขนาดเล็กที่มีพื้นที่มากขึ้นรองรับการโหลดการ์ดหัววัด และปรับปรุงประสิทธิภาพของการทดสอบด้วยหัววัด
โครงสร้างการทำงาน