1. Home
  2. สินค้าทั้งหมด
  3. Product
  4. Products Labs
  5. Micro-nano Characterization
  6. Scanning electron microscope and related equipment

Scanning electron microscope and related equipment

ตัวกรอง(0)

พบสินค้า 3 ชิ้น

เรียงตาม

NTI-ArFIB 200 Argon Ion Field Emission Scanning Electron Microscope NTI-ArFIB 200 Argon Ion Field Emission Scanning Electron Microscope

ระบบลำแสงคู่ (Dual Beam - DB) โดยทั่วไปหมายถึงการผสมผสานระหว่างกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning Electron Microscope - SEM) และลำไอออนจดจ่อ (Focused Ion Beam - FIB)

ติดต่อเรา
รายการโปรด
NTI-FE 2800 - Field Emission Scanning Electron Microscope NTI-FE 2800 - Field Emission Scanning Electron Microscope

ติดต่อเรา
รายการโปรด
NTI-FE 1801- Field Emission Scanning Electron Microscope NTI-FE 1801- Field Emission Scanning Electron Microscope

ติดต่อเรา
รายการโปรด
This website uses cookies for best user experience, to find out more you can go to our Privacy Policy และ Cookies Policy
เปรียบเทียบสินค้า
0/4
ลบทั้งหมด
เปรียบเทียบ
Powered By MakeWebEasy Logo MakeWebEasy